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Onto Innovation

ONTO

283.8102.84% ( +7.830 )
已收盤: 9月22日 15:59:59 (美東)
開始交易
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Onto Innovation (ONTO)

Onto Innovation Inc. 從事設計、開發、制造和支持過程控制工具,這些工具在美國、中國台灣、韓國、日本、中國、東南亞、亞洲和歐洲進行宏觀缺陷檢測和計量。該公司提供光刻系統和過程控制分析軟件;以及自動化和集成計量系統、硅晶圓全表面檢測、宏觀缺陷檢測、自動缺陷分類和模式分析、產量分析、不透明薄膜計量、4D...

今開
273.710
最高
284.760
最低
273.500
昨收
275.980
成交量
77.28 萬股
成交額
2.17 億
平均價
280.605
委比
75.00%
振幅
4.08%
52 週高
386.460
量比
0.66
換手率
1.59%
52 週低
118.970
流通市值
138.23 億
總市值USD
139.28 億
市盈率TTM
105.03
市盈率動
74.20
市盈率靜
--
每股盈利TTM
2.70
每股盈利動
3.82
每股盈利靜
--
每股淨資產
39.18
市淨率
7.24
流通股本
4,870.50 萬股
股息率TTM
--
股息TTM
--
總股本
4,907.42 萬股
每手
1
貨幣
USD

Onto Innovation 分析師預測

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預測及評級

2026 年 9 月 11 日
目標價預測
$386.3636.13%
預測及評級強烈買入
11分析師
  • 強烈買入81.82%
  • 買入18.18%
  • 持有0.00%
  • 賣出0.00%
  • 強烈賣出0.00%
強烈買入
9
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2
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0
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0
強烈賣出
0

每日事件

  1. 7月2日

    Onto Innovation(ONTO.US)今日盤中大幅下挫,截至 ET 11:01 報 312.88 美元,跌幅達 10.95%,從盤前高點 366.98 美元衝高回落。主要因上週財報後利好消化及前日 13 億美元可轉債發行公告引發的短期拋壓。儘管 Q1 2026 營收同比增長 9.51% 至 2.92 億美元、淨利潤下滑 47.34% 至 3375 萬美元,淨利率回升至 11.56%,但有分析師在財報後上調目標價至 371 美元。價格位置看,股價已跌破 20 日均線 316.04 美元,距 52 周高點 386.46 美元回調 19.04%,YTD 仍上漲 88.63%。不過盤後在 ET 23:56 反彈至 353.30 美元,顯示多空分歧。

新聞

  • Simplywall · 前日 17:58

    三隻面臨更高利率和更大芯片支出的 AI 基礎設施股票

  • 每週回顧 · 9月19日 早上06:30

    一週回顧 | ONTO.US 累跌 6.34%,一致目標價高於現價

  • 每週回顧 · 9月12日 早上06:32

    一週回顧 | ONTO.US 累漲 4.94%,多數機構給予買入

  • Quartr · 9月9日 晚上09:52

    ONTO:增長速度超過市場,得益於創新、強勁的積壓訂單以及高利潤產品的擴展

  • 環球通訊 · 9月8日 中午11:32

    物理層面的反擊:基礎設施轉型與半導體週期的價值捕獲

  • 環球通訊 · 9月8日 上午09:18

    從 Datavault AI 的百倍營收野心到 On 的零售發力

討論

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看漲 vs 看跌 · 近 3 個月

2,736 人關注 · 0 條表態
EAPFM
▲看漲50%
50%看跌▼
  • E
    Equity research8月31日 下午03:20

    摩根士丹利:晶圓廠設備

    2026 年和 2027 年,存儲和代工/邏輯晶圓廠設備將迎來大量增長。

    $泛林集團(LRCX.US) $Onto Innovation(ONTO.US) $阿斯麥(ASML.US) $MKS(MKSI.US) $Sunnova Energy(NOVA.US) $應用材料(AMAT.US)

    图片 1,共 1 张
  • A
    AI Gossip8月13日 凌晨12:46

    據台灣半導體協會(SEMI)總裁趙寧報道,媒體稱半導體測試與量測已成為影響 AI 芯片良率、成本、性能和量產速度的關鍵因素,使這項 formerly 幕後工作走向前台。現代測試與量測設備不再僅用於捕捉缺陷,而是將實時洞察反饋給設計、製造和封裝環節,以加快故障排查速度。系統級測試(SLT)、老化測試和可靠性驗證的重要性均有所提升。#Advantest $泰瑞達(TER.US) $應用材料(AMAT.US) $科磊(KLAC.US) $Onto Innovation(ONTO.US) $Nova測量儀器(NVMI.US)

    來源:Dan Nystedt

    Onto Innovation

    Onto Innovation

    USONTO

  • P
    Paradi Lab5月28日 晚上07:57

    測試:CPO 大規模生產的關鍵瓶頸(TrendForce)

    當前的測試方法是手動 + 非標準化的。

    這造成了嚴重的吞吐量瓶頸。

    關於測試環節的曝光:

    -> $Formfactor(FORM.US): 探針卡/系統

    -> $Onto Innovation(ONTO.US): 檢測 + 計量

    -> $康代影像科技(CAMT.US): 檢測 + 計量

    -> $是德科技(KEYS.US): 光子/光學測試

    -> $唯亞威系統服務(VIAV.US): 光子/光學測試

    -> $Aehr測試系統(AEHR.US): 老化 + 測試

    如果有人想進一步研究的話。

    $泰瑞達(TER.US)、Advantest 和 Chroma ATE 等公司也屬於這一領域。

    所以既然$台積電(TSM.US)的 COUPE 目標是在 2026 年實現量產...那麼解決測試瓶頸是 CPO 實現規模化的關鍵解鎖點之一。

    此外還有激光器、FAU、基板和先進封裝等環節。

    披露:我個人持有艾爾測試系統公司的倉位。

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